Title 7.Nhiễu xạ tia X.docx ✅

Nhiễu xạ tia X (X-Ray Diffraction, XRD) là kỹ thuật nghiên cứu cấu trúc tinh thể dựa trên bước sóng tia X tương đồng với khoảng cách giữa các nguyên tử. XRD đo khoảng cách giữa các lớp nguyên tử và xác định hướng, kích thước vùng tinh thể. Khi tia X chiếu vào mẫu, nó bị phân tán bởi mạng tinh thể, tạo ra phổ nhiễu xạ với các đỉnh giao thoa. XRD giúp xác định cấu trúc, phân tích pha, đo kích thước hạt, và khuyết tật. Đây là công cụ quan trọng trong nghiên cứu vật liệu. Trong phổ nhiễu xạ tia X, các đỉnh (peak) của sự giao thoa tăng cường cho biết điều gì? A. Xác định năng lượng và bước sóng của tia X khi chiếu xạ. B. Xác định được khoảng cách và sắp xếp giữa các nguyên tử trong mạng tinh thể. C. Xác định nhiệt độ nóng chảy và các trạng thái của vật liệu. D. Xác định khối lượng riêng của vật liệu.